sem檢測就是掃描電鏡檢測，隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,掃描電鏡已成為檢測固體物質(zhì)的重要手段。利用電子顯微術(shù)力求觀察到更微小的物體結(jié)構(gòu),甚至單個原子;力求從試樣上得到更多的信息,以便對其

進行各種研究。由于掃描電鏡具有分辨能力高,景深長，視野大,成像富有立體感，可以直接觀察樣品凹凸不平的表面，例如金屬斷口，催化劑表面，無機非金屬材料的形貌等等。用掃描電鏡還可以進

行電子通道花樣分析，從而研究試樣微區(qū)的晶體學(xué)位向,晶體對稱性,應(yīng)變稱度和位錯密度等問題。

檢測內(nèi)容

掃描電子顯微鏡主要用于對材料形貌/尺寸進行觀察并分析,對帶有鍍層的材料膜層分析、對材料微區(qū)進行EDS元素分析、細胞觀察,在對材料進行失效分析時進行元素測定、金相分析等。廣泛用

于材料、化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)、地質(zhì)等領(lǐng)域。

檢測標準

產(chǎn)品名稱.

檢測項目

檢測標準

sem檢測

常規(guī)形貌高分辨形貌BSE背散射，能譜EDS點掃線掃面掃等

GA/T1418-2017、