高低溫老化測試、溫濕度循環老化測試、溫度沖擊老化測試、振動、機械沖擊、跌落、防塵防水、高壓清洗、按鍵疲勞和壽命測試，插拔疲勞和壽命等測試； 

樣品量：4套

周期：試驗循環周期 結束后2天

 耐候老化測試：紫外UV老化測試、氙燈老化測試、碳弧燈老化測試、鹵素燈老化測試、橡膠臭氧老化測試、熱空氣老化測試、老化后色差/灰標評價、機械性能老化測試、老化前后硬度、強度測試、沖上擊測試、；

老化試驗主要是指針對橡膠、塑料產品、電器絕緣材料及其他材料進行的熱氧老化試驗；或者針對電子零配件、塑化產品的換氣老化試驗。 

老化試驗又分為溫度老化、陽光輻照老化、加載老化等等。

高溫老化一般分幾個等級進行,工業的一般用70度,4個小時,15度一個等級,一般有40度,55度70度,85度幾個等級,時間一般都是4個小時。

根據老化試驗產品的多少分為2種方法測試

1、老化箱；主要針對塑膠產品，數量和體積不很大的產品比較實用

2、老化柜或是老化房；主要針對高性能電子產品（如：計算機整機，顯示器，終端機，車用電子產品，電源供應器，主機板、監視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環境測試的設備，是提高產品穩定性、可靠性的重要實驗設備、是各生產企業提高產品質量和競爭性的重要生產流程，該設備廣泛應用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領域

主要的老化試驗項目是：

1、光老化測試+波長范圍：氙弧燈老化（300-800nm）、紫外燈老化（280-400nm）、碳弧燈老化（300-700nm），金屬鹵素燈老化（280-3000nm）。

主要參考標準有：

氙弧燈老化：GB/T 16422.2(等同與GB/T4892.2)、GB/T 8427、GB/T 1865ASTM D4355、ASTM G155、JIS K5600等

紫外光老化：GB/T 16422.3(等同與GB/T4892.3)、GB/T 18950、ASTM G 154ASTM D-4674、ASTM_D4674、JIS K 7350 等

碳弧燈老化：GB/T 16422.3(等同與GB/T4892.3)、ASTM G153、JIS D 0205JIS B 7753等

金屬鹵素燈老化：GB 2423.24、IEC60068-2-5、DIN75520等

光老化是戶外使用材料受到的主要老化破壞，對于室內使用材料，也會受到一定程度的光老化。模擬光老化主要的三種燈源各有優異，碳弧燈發明使用，建立的測量體系較早、很多日本標準和纖維材料方面的標準都使用碳弧燈，但由于碳弧燈價格較高、性能不夠穩定（燈管使用90小時后需要更換），已經逐漸被氙弧燈、紫外燈代替。氙燈在模擬自然光方面有較大優勢，價格也相對較低，適合多數產品的使用。紫外燈產生的是400nm以下的光，能較好地加速模擬自然光中紫外線對材料的破壞作用，加速因子比氙燈要高，光源穩定性也比氙燈要好，但容易產生非自然光產出的破壞（尤其是UVB燈）。

主要應用范圍：戶外、室內使用的橡塑、涂料、油墨產品，通訊、電器等設備外殼，汽車件、摩托車配件。

2、熱老化

主要參考標準：GB/T 7141、ASTM D3045、JIS K 6257等。

GB/T20028硫化橡膠或熱塑性橡膠 應用阿累尼烏斯圖推算壽命和使用溫度。

 眾所周知，電子產品在生產出廠過程中，總有一個步驟是必不可少的，那就是高低溫老化測試。那么，電子產品為什么要進行高低溫老化測試呢？我相信這個問題很多人都有想過，那么今天就請跟隨環境老化測試專家——深圳華瑞測實驗室（高低溫老化測試廠家）一起來探究一下吧。

    隨著電子技術的發展，電子產品的集成化程度越來越高，結構越來越細微，工序越來越多，制造工藝越來越復雜，這樣在制造過程中會產生一些潛伏缺陷。電子產品在生產制造時,因設計不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產品的質量問題概括有兩類：

    類是產品的性能參數不達標，生產的產品不符合使用要求；

    第二類是潛在的缺陷，這類缺陷不能用一般的測試手段發現，而需要在使用過程中逐漸地被暴露，如硅片表面污染、組織不穩定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。

    一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運行一千個小時左右才能全部被(暴露)。顯然，對每只元器件測試一千個小時是不現實的，需要對其施加熱應力和偏壓，例如進行高溫功率應力試驗，來加速這類缺陷的提早暴露。也就是給電子產品施加熱的、電的、機械的或多種綜合的外部應力，模擬嚴酷工作環境，消除加工應力和殘余溶劑等物質，使潛伏故障提前出現，盡快使產品通過失效浴盆特性初期階段，進入高可靠的穩定期。

     通過高溫老化可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產過程中存在的隱患提前暴露，老化后再進行電氣參數測量，篩選剔除失效或變值的元器件，盡可能把產品的早期失效消滅在正常使用之用，從面保證出廠的產品能經得起時間的考驗。

溫濕度組合循環老化試驗、交變濕熱老化試驗、恒定濕熱老化試驗、高低溫度變化試驗、恒溫恒濕試驗、高溫試驗、低溫試驗、

電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫GB/T 2423.1-2008

電工電子產品基本環境試驗規程 試驗A:低溫試驗方法   IEC 60068-2-1：2007

軍用設備環境試驗方法 第4部分：低溫試驗     GJB 150.4A-2009

電連接器和插座低溫測試程序   EIA-364-59A-2006(R2013)

電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：高溫GB/T 2423.2-2008

電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫試驗方法   IEC 60068-2-2：2007

軍用設備環境試驗方法：高溫試驗   GJB 150.3A-2009

電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化GB/T 2423.22-2012

電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化IEC 60068-2-14：2009

軍用設備環境試驗方法：溫度沖擊 GJB 150.5A-2009

電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗  GB/T 2423.3-2006      

電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法     IEC 60068-2-78：2012

電連接器和插座的濕度測試程序  EIA-364-31D-2014

色漆和清漆 耐濕性的測定連續冷凝法GB/T13893-2008

電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環）GB/T 2423.4-2008

電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Db:交變濕熱（12h+12h循環） IEC 60068-2-30：2005

漆膜耐濕熱測定法GB/T1740-2007

電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗ZAD：溫度濕度組合循環試驗GB/T 2423.34-2012

電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環試驗  IEC 60068-2-38：2009

色漆和清漆 耐熱性的測定GB/T 1735-2009

電連接器和插座的溫度壽命測試（帶載或不帶載）程序      EIA-364-17C-2011電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫GB/T 2423.1-2008

電連接器和插座的溫度壽命測試（帶載或不帶載）程序EIA-364-17C-2011

華瑞測分析實驗室專業電子產品高低溫老化測試、高低溫循環老化測試、恒溫恒濕老化測試、高低溫沖擊老化測試、紫外光老化測試等各種電子產品專用環境老化測試服務，通過多年的不斷努力與客戶的支持與信賴，試驗已經應用于：航空、航天、IT、通訊、電器、汽車、化工、塑膠、橡膠、塑料、金屬、建筑、電線電纜、皮革、紡織、機械、箱包、印刷及其高等院校等各大領域。技術、品質、服務快捷到位，如有需求，敬請與我們通電，期待您的來電！