中山電鍍產(chǎn)品鹽霧測試 鍍層厚度測試

鍍層是為了好看或儲藏而涂在某些物品上的金屬表面涂上一層塑料，或者一層稀薄的金屬或為仿造某種貴重金屬，在普通金屬的表面鍍上這種貴重金屬的薄層。鍍層厚度測試檢測材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測試。

一般檢測方法有：

1、金相法

2、庫侖法

3、X-ray 方法

適用范圍

金相法：

采用金相顯微鏡檢測橫斷面，以測量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測需要大于1um，才能保證測量結(jié)果在誤差范圍之內(nèi)；厚度越大，誤差越小。

庫侖法：

適合測量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽極溶解庫侖法，包括測量多層體系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴散層的厚度。不僅可以測量平面試樣的覆蓋層厚度，還可以測量圓柱形和線材的覆蓋層厚度，尤其適合測量多層鎳鍍層的金屬及其電位差。測量鍍層的種類為Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。

X-ray 方法：

適用于測定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括：金（Au），銀（Ag），錫（Sn），銅（Cu），鎳（Ni），鉻（Cr）等金屬元素厚度。

本測量方法可測量三層覆蓋層體系，或測量三層組分的厚度和成分。

測試原理

利用金相顯微鏡原理，對鍍層厚度進行放大，以便準確的觀測及測量。

利用適當?shù)碾娊庖宏枠O溶解**限定面積的覆蓋層，電解池電壓的急劇變化表明覆蓋層實質(zhì)上完全溶解，經(jīng)過所耗的電量計算出覆蓋層的厚度。因陽極溶解的方法不同，被測量覆蓋層的厚度所耗的電量也不同。用恒定電流密度溶解時，可由試驗開始到試驗終止的時間計算；用非恒定電流密度溶解時，由累積所耗電量計算，累積所耗電量由電量計累計顯示。

X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強度之間存在一定的關(guān)系。該關(guān)系由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標準塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，又給出實際的密度，則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線性厚度。

樣品要求

由于金相法測樣品的厚度為局部厚度，對于一些厚度不一致的樣品，需要客戶指定具體部位。如沒有特殊要求，我們將自行取一個較均勻的部位進行測量。

目前我們只能測平面的鍍層厚度，樣品需要至少一個5 mm2平面。

其面積至少大于0.05×0.25mm

我公司主要經(jīng)營有害化學(xué)物質(zhì)和未知成分分析、金屬成分分析、稀土成分分析、礦石成分分析、塑膠成分分析、認證、檢驗鑒定服務(wù)

電鍍層質(zhì)量檢查的內(nèi)容包括鍍層的外觀、厚度、與基體金屬的結(jié)合力、延展性、顯微硬度、脆性、耐蝕性、耐磨性、可焊性等。具體質(zhì)量檢查的內(nèi)容因零件和鍍層而異，但鍍層的外觀、厚度、耐蝕性和與基體金屬的結(jié)合力是所有鍍層都必須檢查的內(nèi)容。電鍍層的質(zhì)量檢查方法和評判，各個國家有各自制定的國家標準，也有統(tǒng)一的;不同的企業(yè)也制定有相應(yīng)的企業(yè)標準。